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Artigo de periodico
Measurements of X-ray scatter signatures for some tissue-equivalent materials (2004)
Poletti, M. E.; Goncalves, O. D.; Mazzaro, I.
Source: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B. Unidade: FFCLRP
Subjects: RADIOGRAFIA, CONTROLE DA QUALIDADE
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
POLETTI, M. E. e GONCALVES, O. D. e MAZZARO, I. Measurements of X-ray scatter signatures for some tissue-equivalent materials. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, v. 213, p. 595-598, 2004Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/s0168-583x(03)01676-8. Acesso em: 03 maio 2024.
APA
Poletti, M. E., Goncalves, O. D., & Mazzaro, I. (2004). Measurements of X-ray scatter signatures for some tissue-equivalent materials. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 213, 595-598. doi:10.1016/s0168-583x(03)01676-8
NLM
Poletti ME, Goncalves OD, Mazzaro I. Measurements of X-ray scatter signatures for some tissue-equivalent materials [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B. 2004 ; 213 595-598.[citado 2024 maio 03 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0168-583x(03)01676-8
Vancouver
Poletti ME, Goncalves OD, Mazzaro I. Measurements of X-ray scatter signatures for some tissue-equivalent materials [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B. 2004 ; 213 595-598.[citado 2024 maio 03 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0168-583x(03)01676-8
Trabalho de evento-resumo
Novo metodo para determinacao de perfil de vacuo residual utilizando o fenomeno de troca de carga (1995)
Goncalves, N; Luna, H M R; Donangelo, R; Faria, N V C; Goncalves, O. D.; Jalbert, G; Acquadro Quacchia, Juan Carlos
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada. Unidade: IF
Assunto: FÍSICA NUCLEAR
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GONCALVES, N et al. Novo metodo para determinacao de perfil de vacuo residual utilizando o fenomeno de troca de carga. 1995, Anais.. Sao Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica, 1995. . Acesso em: 03 maio 2024.
APA
Goncalves, N., Luna, H. M. R., Donangelo, R., Faria, N. V. C., Goncalves, O. D., Jalbert, G., & Acquadro Quacchia, J. C. (1995). Novo metodo para determinacao de perfil de vacuo residual utilizando o fenomeno de troca de carga. In Resumos. Sao Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica.
NLM
Goncalves N, Luna HMR, Donangelo R, Faria NVC, Goncalves OD, Jalbert G, Acquadro Quacchia JC. Novo metodo para determinacao de perfil de vacuo residual utilizando o fenomeno de troca de carga. Resumos. 1995 ;[citado 2024 maio 03 ]
Vancouver
Goncalves N, Luna HMR, Donangelo R, Faria NVC, Goncalves OD, Jalbert G, Acquadro Quacchia JC. Novo metodo para determinacao de perfil de vacuo residual utilizando o fenomeno de troca de carga. Resumos. 1995 ;[citado 2024 maio 03 ]

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